TH2825A系列 LCR數字電橋 簡要介紹 TH2825A 型高速LCR數字電橋是重點推出的新一代元件參數測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV 步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。 本產品運用了元件測試領域的新技術,測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平,提供高測量速度15ms/次,尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題,為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。 不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果,TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要,保證不同儀表間測試結果的一致性。 陶瓷電容器(MLCC)對測試信號電平極為敏感,TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器,允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試,100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。 TH2825A 具備變壓器測試能力,使用專門的變壓器測試夾具,無須改變測試線方式便可方便地測量匝數比(N,1/N)、互感(M)、初次級電感(LA、LB),初次級 直流電阻(DCR2)。有-5V-5V偏置電壓(僅TH2825A),可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。 該產品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent與知名儀表的接口兼容性 性能特點 ■ 超高速測量:15ms(測試頻率≥100Hz時) ■ 大型LCD(240×64點陣)顯示 ■ 人性化引導式操作界面 ■ 50Hz-100kHz, 10個典型測試頻率 ■ 10mVrms—1.0Vrms可編程測試電平 ■ 內部DC偏流源大可達200mA(使用25Ω內阻) ■ 負載校準功能 ■ 4種可選源阻抗模式,便于兼容不同LCR表的測試一致性 ■ 4點頻率/電平/偏流列表掃描功能 ■ 變壓器參數測量能力 ■ 12組內部儀器設定儲存 ■ 內建9檔比較器,分選及檔計數 ■ 具有良品/不良品(Hi/Go/Low)警示聲響判定功能 ■ 測試電平V/I監視功能 ■ 與Agilent 4263B兼容的Handler接口 ■ 與Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令 技術參數 TH | TH2825A | 顯示器 | 240x64點陣LCD顯示器,5位讀數分辨率 | 測試參數 | LCR參數 | |Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR | 變壓器參數 | DCR,DCR2,M,N,1/N,LA,LB | 測試頻率 | 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點 | 測試電平 | 10mVrms-1.0Vrms,1mV步進<200mV10mV步進≥200mV | 信號源內阻 | 25Ω,100Ω,25Ω/100Ω,C.V.(恒壓) | DC偏置電流(≥1kHz) | 當100Ω內阻時,±50mAMax當25Ω內阻時,±200mAMax | 基本測量準確度 | 0.1% | 顯示范圍 | |Z|,R,X | 0.01mΩ—99.99MΩ | G,B | 0.0001μS—999.99S | C | 0.001pF—1.9999F | L | 0.001μH—99.9999kH | Q | 0.0001—9999 | D | 0.0001—9999 | θ(DEG) | -180.00°—180.00° | θ(RAD) | -3.1415—3.1415 | Δ% | -999.99%—999.99% | TurnsRatio | 0.001—9999.9 | DCR | 0.1mΩ—99.99MΩ | M,L2 | 0.001μH—99.99kH | 測量速度(≥100Hz) | 快速:15ms(注1),中速:66ms,慢速:500ms | 等效電路 | 串聯,并聯 | 量程方式 | 自動,保持/手動切換 | 觸發方式 | 內部,手動,外部,總線 | 平均次數 | 1—255 | 校準功能 | 開路,短路,負載校正 | 測量端 | 5端 | 顯示方式 | 直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監示),檔號及檔計數 | 列表掃描 | 4點頻率,電平列表掃描測試 | 比較器功能 | 九檔(八檔合格,一檔不合格) | 上超/合格/下超比較器 | 存儲器 | 12組內部儀器設定供存儲/調用 | 接口 | RS-232C,HANDLER,GPIB(選件) | 4263B兼容,為與4263B的互換提供了良好的條件。 | 注1:快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數小字符顯示比較判別。若包括測試參數大字符顯示,測試時間另加5ms。 |

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